2025-07-02
芯片研發過程中為什么要做HAST測試?
芯片研發過程中為什么要做HAST測試?海拓儀器 2025年06月26日 15:50 江蘇在芯片研發的漫長征程中,一款芯片從設計到量產需要經歷設計、制造、封裝、測試四大環節。盡管測試環節占總成本底,但一旦忽略測試導致產品失效率過高,后期退貨和賠償的損失可能遠超節省的測試成本。在眾多可靠性測試方法中,HAST(高加速應力測試)扮演著至關重要的角色。 什么是HAST測試?HAST全稱為Highly Accelerated Stress Test(高加速應力測試),是一種通過對芯片施加高溫、高濕及高壓的極端環境條件,來加速模擬芯片長期老化過程的可靠性測試方法。HAST測試的核心是通過提升環境溫度、濕度及壓力,加速芯片內部材料的物理和化學變化過程。在典型測試條件下,HAST測試能夠在短短幾天內模擬出芯片在自然環境下數年的老化效果。測試目的明確聚焦于三點:評估芯片在高溫高濕環境下的穩定性;檢測可能由溫
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